Universidad Complutense de Madrid :: Caracterizacion, Corrosion y Degradacion de Materiales de Interes Tecnologico

INSTALACIONES/FACILITIES

Preparación metalográfica

• Pulidoras mecánicas
• Sistema de pulido electroquímico
• Cortadoras y microcortadoras
• Preparación muestras TEM (ultramicrotomo, dimpler, PIPS)
• Recubrimiento grafito y oro.

 Caracterización

• MO (Reitcher MEF 3).
• SEM (JEOL 6330 F 30kV, JEOL JSM 6400 40 kV).
• TEM (400kV JEOL JEM 4000 EX, 300kV FEG-TEM JEOL JEM 3000 F, 200kV JEOL JEM 2000 FX, 200kV PHILIPS CM 200 FEG…).
• EPMA (JEOL JXA 8900 M).
• AFM-SKPFM (NanoScope IIIa MultiMode Veeco).
• XRD (Bruker AXS, Multi-purpose PHILIPS X’Pert PRO ALPHA1), PHILIPS X’Pert MPD, PHILIPS X’Pert PRO MPD, PHILIPS X’Pert PRO MRD.
• Low-angle XRD (SAXS), SIEMENS D-5000….
• XPS (Fisons MT500).
• Medidor de espesores (ISOSCOPE FMP10 Fischer)
• Rugosímetro (Surtronic 25)
• Ángulo de contacto (FTA1000B)
• Espectroscopio de alta resolución de emisión óptica (Ocean Optics HR4000)

 Corrosión

• Potenciostatos-galvanostatos (PGSTAT30, AUTOLAB )
• Baños termostáticos
• Cámara de niebla salina (CCM-MX, CCI)
• Cámara climática (CCK 0/81, Dycometal)
• Muflas y hornos tubulares (CTF, Carbolite)

Anodizado y Oxidación Electroquímica con Plasma

• Fuente de alimentación AC 2kW (EAC-S2000, ET Systems electronic)
• Fuente de alimentación DC (TTi PL601)

Propiedades mecánicas

• Tribómetro pin-on-disk (SMT-A/0200, Microtest)
• Medidor de adherencia Pull-off (PosiTest AT-A, Defelsko)

• Durómetro (AKASHI AVK-AII) y microdurómetro (AKASHI MVK-E3). 
• Nanoindentación AFM (NanoScope IIIa MultiMode, Veeco)
• Máquina de tracción (MTS)

Otros

• Acceso a los CAIs de la Universidad Complutense de Madrid